老化实验箱的技术原理介绍

    老化试验箱,适合于像胶、电子原器件、电子产品等各种产品的老化试验的要求,具有可编程功能,可编制温度、时间、升温速率等程序,以极快的速度进行加热老化试验。
    微电脑程序控制温度、时间及升温速率，可预设排气风门开启、闭合时间，以极快的速度进行加热老化试验。
    可预设15段30步可编程序，每段设置时间1～99小时99，循环风机转速可调。
    程序可调的风门，箱内循环转速0～100%可调。
    当老化试验箱发生故障时，液晶显示屏会出现故障信息，运行故障点一目了然。
    可连接打印机、485通讯接口或USB数据转移接口（U盘）用电脑和打印机记录温度和时间曲线，为试验过程数据储存与回放提供有力保证。
    独立限温报警系统，并声光报警提示操作者，保证安全运行不发生意外。
    温度偏高或偏低及超温报警。